本发明提供一种基于脉冲涡流阵列的缺陷检测装置及方法，涉及无损检测技术领域。本方法的过程如下：信号发生器产生周期性脉冲信号，经功率放大器放大后，施加到激励线圈两端。检测线圈阵列单元采集被测试件上方磁场信号，输出给信号调理单元；信号调理单元对信号进行滤波、放大后输出给A/D转换单元，最后，送入DSP数据处理模块，求取缺陷的尺寸信息。本发明装置对检测阵列数据了进行了聚类和均值处理，有效抑制了检测阵列线圈倾斜或提离对缺陷检测的影响；采用了一个线圈作为激励、多个检测线圈组成阵列的结构，即减小了磁场的干扰，又实现了更为全面的缺陷信息检测；将时域特征量和频域特征量相结合，提高了缺陷检测精度。