低成本且高性能测辐射热计电路和方法
授权
摘要
一种测辐射热计电路包括基板，有效测辐射热计的焦平面阵列(FPA)设置在该基板上。每个有效测辐射热计配置成接收外部红外(IR)辐射以及与基板基本上热隔离。测辐射热计电路还包括屏蔽于外部IR辐射热并且与基板基本上热隔离的盲测辐射热计的一个或多个盲阵列。基于来自一个或多个盲阵列的对应列或行的输出的统计特性校正、减少或抑制来自FPA的每列和/或每行的输出中的噪声。还可以使用一个或多个盲阵列校正、减少或抑制FPA捕获的IR图像的每一帧中的噪声。
基本信息
专利标题 ：
低成本且高性能测辐射热计电路和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110574362A
申请号 ：
CN201880026444.9
公开（公告）日 ：
2019-12-13
申请日 ：
2018-02-21
授权号 ：
CN110574362B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
R·F·卡纳塔B·B·西蒙朗N·Y·阿齐兹
申请人 ：
菲力尔系统公司
申请人地址 ：
美国俄勒冈州
代理机构 ：
青岛联智专利商标事务所有限公司
代理人 ：
阎娬斌
优先权 ：
CN201880026444.9
主分类号 ：
H04N5/33
IPC分类号 ：
H04N5/33 H04N5/365 H04N5/361
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2022-03-25 ：
著录事项变更
IPC(主分类) : H04N 5/33
变更事项 : 申请人
变更前 : 菲力尔系统公司
变更后 : 泰立戴恩菲力尔有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国俄勒冈州
变更后 : 美国加利福尼亚
变更事项 : 申请人
变更前 : 菲力尔系统公司
变更后 : 泰立戴恩菲力尔有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国俄勒冈州
变更后 : 美国加利福尼亚
2020-03-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 5/33
申请日 : 20180221
申请日 : 20180221
2019-12-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
