二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法
授权
摘要
本发明的二维闪烁测定装置具备：第一计算部，其根据以第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的测光量算出测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；第二计算部，其根据以第二采样频率对测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出规定的测定区域的闪烁量；以及校正部，其使用校正系数对第一计算部算出的多个测定区域各自的闪烁量进行校正，该校正系数由第二计算部算出的闪烁量、和根据以第一采样频率对规定的测定区域进行测光而得到的测光量算出的规定的测定区域的闪烁量而规定。
基本信息
专利标题 ：
二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111164406A
申请号 ：
CN201880063575.4
公开（公告）日 ：
2020-05-15
申请日 ：
2018-09-10
授权号 ：
CN111164406B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
西川宜弘
申请人 ：
柯尼卡美能达株式会社
申请人地址 ：
日本国东京都千代田区丸之内2-7-2
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
付生辉
优先权 ：
CN201880063575.4
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01J1/42 G01J1/44 G02F1/13 H04N5/235
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-06-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20180910
申请日 : 20180910
2020-05-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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