本发明属于电子元器件测试技术领域，公开了一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置，包括：主控模块、输出模块、信号采集模块、噪声信号分析模块、电路或单元噪声分析模块。本发明提出了一套电子元件噪声测试系统的装置，并在电子元器件噪声测试的基础上，基于噪声综合参数提取和寿命评估分析研究，创新性提出了基于噪声的综合参数测试提取及对器件寿命进行表征评估的分析方法流程，提出了寿命和可靠性评估模型的建立方法，并设计开发了一套可以对电子元件以及集成电路模块进行噪声测试分析、噪声参数提取及电子元件寿命分析评估的系统，该系统可广泛应用于电子元器件的噪声测试和寿命及可靠性评估分析相关领域。