一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置
授权
摘要
本发明属于电子元器件测试技术领域,公开了一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置,包括:主控模块、输出模块、信号采集模块、噪声信号分析模块、电路或单元噪声分析模块。本发明提出了一套电子元件噪声测试系统的装置,并在电子元器件噪声测试的基础上,基于噪声综合参数提取和寿命评估分析研究,创新性提出了基于噪声的综合参数测试提取及对器件寿命进行表征评估的分析方法流程,提出了寿命和可靠性评估模型的建立方法,并设计开发了一套可以对电子元件以及集成电路模块进行噪声测试分析、噪声参数提取及电子元件寿命分析评估的系统,该系统可广泛应用于电子元器件的噪声测试和寿命及可靠性评估分析相关领域。
基本信息
专利标题 :
一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110389290A
申请号 :
CN201910703857.2
公开(公告)日 :
2019-10-29
申请日 :
2019-07-31
授权号 :
CN110389290B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
陈文豪廖宇龙
申请人 :
东莞豪泽电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发技术区总部二路4号1栋901室
代理机构 :
北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人 :
马超前
优先权 :
CN201910703857.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R29/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-06 :
授权
2019-11-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20190731
申请日 : 20190731
2019-10-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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