一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统

授权

摘要

本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明的解决方案是：提供一种用于集成电路测试领域面向行的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐行存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段。

基本信息

专利标题：

一种集成电路测试系统及其面向行的数据库管理系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110532264A

申请号：

CN201910729265.8

公开（公告）日：

2019-12-03

申请日：

2019-08-08

授权号：

CN110532264B

授权日：

2022-04-15

发明人：

蓝帆

申请人：

杭州广立微电子有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室

代理机构：

杭州丰禾专利事务所有限公司

代理人：

王静

优先权：

CN201910729265.8

主分类号：

G06F16/22

IPC分类号：

G06F16/22 G06F16/21 G06F16/2455 G01R31/28

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06F

电数字数据处理

G06F16/22

••索引；数据结构；存储结构

法律状态

2022-04-15 ：

授权

2021-01-22 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : G06F 16/22
变更事项 : 申请人
变更前 : 杭州广立微电子有限公司
变更后 : 杭州广立微电子股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310012 浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
变更后 : 310012 浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室

2019-12-27 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06F 16/22
申请日 : 20190808

2019-12-03 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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