一种电子器件性能退化趋势的预测方法
授权
摘要
本发明公开了一种电子器件性能退化趋势的预测方法，通过离线建立初始相关熵极限学习机的预测模型，并对动态动态相关熵极限学习机在线更新，构建与奇异值相结合的编码本机制，进而来识别历史数据中的奇异值，从而克服数据中噪声和奇异值对预测模型的影响，提升预测模型的最终预测效果。
基本信息
专利标题 ：
一种电子器件性能退化趋势的预测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110633516A
申请号 ：
CN201910812431.0
公开（公告）日 ：
2019-12-31
申请日 ：
2019-08-30
授权号 ：
CN110633516B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
刘震梅文娟杜立程玉华黄建国白利兵
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
温利平
优先权 ：
CN201910812431.0
主分类号 ：
G06F17/50
IPC分类号 ：
G06F17/50
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2020-01-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/50
申请日 : 20190830
申请日 : 20190830
2019-12-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
