二自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法和六自...
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摘要

本发明提出二自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法和六自由度干涉仪,所述二自由度位移测量干涉仪包括激光光源、分光镜、光栅、二自由度位移发生装置、用于形成第一F‑P腔具有部分透射表面1的光学器件、用于形成第二F‑P腔具有部分透射表面2的光学器件、光电探测模块1、光电探测模块2和信号处理模块;本发明所述二自由度位移测量干涉仪及其测量方法将可动的光栅作为被测目标腔镜,两F‑P腔基本单元对称放置,实现以光栅栅距为基准的、对光栅面内平动位移的测量和以激光波长‑光栅栅距为基准的、对垂直光栅面的运动的测量。本发明还以二自由度F‑P光栅干涉仪作为测头,以四测头布局实现对光栅平面的六自由度测量。

基本信息
专利标题 :
二自由度位移测量的法布里珀罗光栅干涉仪及其测量方法和六自由度干涉仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112444194A
申请号 :
CN201910827857.3
公开(公告)日 :
2021-03-05
申请日 :
2019-09-03
授权号 :
CN112444194B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
胡鹏程王嘉宁常笛谭久彬
申请人 :
哈尔滨工业大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 :
哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
代理人 :
孙莉莉
优先权 :
CN201910827857.3
主分类号 :
G01B9/02
IPC分类号 :
G01B9/02  G01B11/02  G01D5/353  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2022-06-14 :
授权
2021-03-23 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 9/02
申请日 : 20190903
2021-03-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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