基于嵌入式的测试方法、微控制器和系统
授权
摘要
本申请提供一种基于嵌入式的测试方法、微控制器和系统，该方法包括：通过与所述微控制器连接的串口设备，获取测试命令；其中，所述测试命令中携带待测试模块的标识信息；根据所述标识信息，确定所述待测试模块上的各待测引脚；其中，所述各待测引脚与所述微控制器上的各测试引脚一一连接；利用每个所述待测引脚对应的测试引脚，对每个所述待测引脚进行测试，得到测试结果，并通过所述串口设备输出所述测试结果。本案能够实现对模块硬件管脚的测试。
基本信息
专利标题 ：
基于嵌入式的测试方法、微控制器和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110658400A
申请号 ：
CN201910935603.3
公开（公告）日 ：
2020-01-07
申请日 ：
2019-09-29
授权号 ：
CN110658400B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
崇自庆
申请人 ：
上海移为通信技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区宜山路1618号E厂房801A室
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
张宁
优先权 ：
CN201910935603.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-02-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20190929
申请日 : 20190929
2020-01-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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