基于星历参数的光学遥感影像大气校正方法及装置
授权
摘要
本发明公开了基于星历参数的光学遥感影像大气校正方法及装置,涉及大气校正领域。该方法包括:从几何校正影像中提取预设像素点的经纬度,根据预设像素点的经纬度计算预设像素点的原始行列号;根据原始行列号从辅助数据文件中提取预设像素点的成像时间及卫星平台的位置;根据预设像素点的经纬度、成像时间及卫星平台的位置计算观测几何参数;根据观测几何参数和大气气象参数通过预设的查找表计算得到大气校正参数,计算得到地表反射率。本发明适用于遥感卫星的成像,实现了几何等输入参数的实时、快速自动计算,在不影响大气校正处理精度的情况下,提高了产品生产的处理效率和自动化程度。
基本信息
专利标题 :
基于星历参数的光学遥感影像大气校正方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110907364A
申请号 :
CN201911174683.1
公开(公告)日 :
2020-03-24
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN110907364B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
刘志文李盛阳覃帮勇
申请人 :
中国科学院空间应用工程与技术中心
申请人地址 :
北京市海淀区邓庄南路九号
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
张力波
优先权 :
CN201911174683.1
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17 G01N21/55 G01S19/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-04-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20191126
申请日 : 20191126
2020-03-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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