一种用于探测器阵列与射线源对准的系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于探测器阵列与射线源对准的系统，包括射线源、调节件、立柱、阵列探测器单元、射线强度检测单元和信号采集单元；所述调节件与射线源相连；所述阵列探测器单元包括若干组探测器阵列，每组探测器阵列均包括多个探测器；所述射线强度检测单元包括若干个射线强度检测器，各射线强度检测器分别设于对应的探测器旁，检测各探测器上获得的射线强度；所述信号采集单元的输入端分别与各射线强度检测器的输出端相连，接收各射线强度检测器输出的射线强度信号，并进行显示。本实用新型能够实现准确地确定单组探测器阵列与射线源的最佳对准位置，保证射线源与各组探测器阵列对准不会发生偏差。
基本信息
专利标题 ：
一种用于探测器阵列与射线源对准的系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920519302.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-17
授权号 ：
CN210166328U
授权日 ：
2020-03-20
发明人 ：
刘能飞赵亚亭尚菊红张毅兰治林钱国龙唐钰婷
申请人 ：
苏州曼德克光电有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市高新区元丰路232号
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
董建林
优先权 ：
CN201920519302.8
主分类号 ：
G01N23/10
IPC分类号 ：
G01N23/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/10
材料装在容器中，例如行李X射线扫描仪
法律状态
2020-03-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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