检测半导体材料内部缺陷的红外装置，包括红外检测装置主体，红外检测装置主体上安装有两根横杆，两横杆的左端通过横板固定连接，横板的顶面开设圆孔，圆孔内设有转杆，转杆与圆孔通过轴承活动连接，转杆的上端固定安装齿轮，横杆的上方设有纵向的底板，底板上等距离纵向放置数个被检样品，底板的左侧面固定安装齿条，齿条与齿轮啮合。本装置的使用，能一次性放置数个被检样品，并通过旋转转杆，使得每个被检样品均能依次被检测，进而能省略多次拿取检测完的样品并放置新样品的步骤，进而减少工作人员多次重复动作所消耗的时间。