一种多极化多频段准光测量系统
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摘要

本实用新型涉及测量技术领域,特别是涉及材料和器件的物理特性测量,具体地提供一种多极化多频段准光测量系统。所述多极化多频段准光测量系统包括第一天线、第一聚焦透镜、第二天线、第二聚焦透镜、第一频率选择面、第三聚焦透镜、第三天线、第二频率选择面、第四聚焦透镜和过模波导天线,第一天线用于发射或接收第一频段电磁波,第二天线用于发射或接收第二频段电磁波,第三天线用于发射或接收第三频段电磁波,过模波导天线用于接收或发射所述第一频段电磁波、第二频段电磁波和第三频段电磁波。本实用新型能够实现多个频段的电磁波的合成传输或分离传输,同时满足多极化多频段的测试测量需求。

基本信息
专利标题 :
一种多极化多频段准光测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920601379.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-28
授权号 :
CN209606633U
授权日 :
2019-11-08
发明人 :
南建军郑礼朋张世军
申请人 :
上海铭剑电子科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区东方路985号一百杉杉大厦17B
代理机构 :
北京中和立达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨磊
优先权 :
CN201920601379.X
主分类号 :
G01V8/00
IPC分类号 :
G01V8/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
法律状态
2019-11-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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