使用干涉测量系统配准磁跟踪系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种配准装置,该配准装置包括棒、穿过棒的光导和固定到棒的方位传感器。光源将调制的光束输出到光导近侧端部中,使得光从光导远侧端部朝向接近棒远侧末端的表面发射。检测器从光引导近侧端部接收从表面反射到光导远侧端部中的光,并且输出指示所反射的光的强度的信号。处理器通过从信号提取输出光束与所反射的光之间的相位差来计算从棒的远侧末端到表面的距离,并且响应于所计算的距离和从方位传感器找到的远侧末端的位置来计算表面在传感器参照系中的方位。

基本信息
专利标题 :
使用干涉测量系统配准磁跟踪系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114286650A
申请号 :
CN202080060697.5
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2020-08-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
A·戈瓦里V·格莱纳Y·阿尔加维A·C·阿尔特曼I·斯特尼茨基
申请人 :
伯恩森斯韦伯斯特(以色列)有限责任公司
申请人地址 :
以色列约克尼姆
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
陈开泰
优先权 :
CN202080060697.5
主分类号 :
A61B34/20
IPC分类号 :
A61B34/20  A61B90/00  A61B10/02  A61B18/12  A61B18/14  
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B34/00
计算机辅助外科学;专门适用于外科的操纵器或机器人
A61B34/20
外科手术导航系统;外科器械的跟踪或导向装置,例如用于无框架的脑立体测定
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 34/20
申请日 : 20200826
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332