一种高频熔融制样设备
著录事项变更
摘要

本实用新型公开了一种高频熔融制样设备,包括机架、设置于机架上的机箱以及设置于机箱上的排风系统、机械摇摆装置、高频加热电源、24继电器、DA转化器、步进电机驱动器、可编程控制器,本实用新型利用高频原理,通过高频感应线圈的连接方法,增加了交变电磁场产生的数量,在装有样品的坩埚通过高频感应线圈交变电磁场中前后摇摆的同时倾斜式自旋,增强了熔融样品的均匀性,并通过倾斜式自旋驱除了熔融液里影响数据分析的气泡;坩埚里的样品在倒模机构的推动下实现自动成型,手动倒模和自动倒模;在仪器的控制下实现熔融、混均、成型和倒模成型的操作,本实用新型技术可以有效的提高制样速度和制样品质,达到了X荧光光谱仪的最高要求。

基本信息
专利标题 :
一种高频熔融制样设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920634354.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-06
授权号 :
CN210015061U
授权日 :
2020-02-04
发明人 :
刘德福郝震
申请人 :
湖南佳和科技有限责任公司
申请人地址 :
湖南省湘西土家族苗族自治州吉首市乾州办事处朝阳路1栋103室
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
尚欣
优先权 :
CN201920634354.X
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2020-08-04 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 23/2202
变更事项 : 发明人
变更前 : 刘德福 郝震
变更后 : 刘德福
2020-02-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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