一种等离子体参数的探测装置及探测系统
授权
摘要
本申请公开了一种等离子体参数的探测装置及探测系统，其中，所述等离子体参数的探测装置中具有三个探测电极，其中作为参数探针的两个探测电极用于探测待测等离子体的电子和离子，以根据探测的电子和离子获取所述待测等离子体的伏安特性曲线；作为悬浮探针的探测电极用于探测所述待测等离子体的空间电位，并且由于所述绝缘套朝向飞行器外侧的表面以及三个所述探测电极朝向飞行器外侧的表面与所述飞行器表皮形成光滑表面，避免了突出裸露的电极在高速飞行器表面或黑障等特殊区域内容易烧毁的问题，实现了在黑障区域中进行等离子体参数探测的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种等离子体参数的探测装置及探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920745611.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-22
授权号 ：
CN210042342U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
余鹏程刘宇罗雨轩张仲恺曹金祥
申请人 ：
中国科学技术大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王宝筠
优先权 ：
CN201920745611.7
主分类号 ：
H05H1/00
IPC分类号 ：
H05H1/00
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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