大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统
授权
摘要
本实用新型提供一种大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统，包括主反射面和副反射面，主反射面的中心处设有馈源仓，副反射面的边沿处安装有第一激光器，馈源仓的顶端为平面，平面上安装有馈源喇叭、黑色接收板、和长距离激光测距设备，馈源喇叭的侧面安装有对准所述黑色接收板的相机，相机测量第一激光器落在黑色接收板上的光斑的二维位置，长距离激光测距设备测量其到副反射面之间的距离。本实用新型的副反射面位姿测量系统采用PSD代替功率检测，可以在大型射电望远镜建设初期链路系统不完善的情况下获取副反射面的三维位移数据，构建副反射面的三维的重力模型，并对温度、风载和瞬时启停这类不稳定的因素对副反射面位姿的影响进行定量定性分析。
基本信息
专利标题 ：
大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920862589.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-10
授权号 ：
CN210036681U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
江永琛王锦清苟伟虞林峰蒋甬斌
申请人 ：
中国科学院上海天文台
申请人地址 ：
上海市徐汇区南丹路80号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN201920862589.4
主分类号 ：
G01C1/00
IPC分类号 ：
G01C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C1/00
测量角度
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
