基于单片机的芯片短路检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于单片机的芯片短路检测系统。该芯片短路检测系统包括：检测端子，与待测芯片的引脚相连；短路检测单元，与检测端子相连，用于检测检测端子的电信号变化，并根据电信号变化得到待测芯片与检测端子之间的短路检测结果；短路控制单元，与检测单元相连，用于在待测芯片与检测端子之间存在短路时，执行短路异常处理。无需人工操作，实现了芯片各引脚短路的自动检测，提高了芯片短路检测的工作效率。
基本信息
专利标题 ：
基于单片机的芯片短路检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920919885.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-18
授权号 ：
CN210376599U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
杨炯建
申请人 ：
诺华达电子（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新中二道5号生产力大楼C单元五层503
代理机构 ：
深圳市汇信知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵英杰
优先权 ：
CN201920919885.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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