一种小型封装霍尔开关元器件用测试座
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摘要
一种小型封装霍尔开关元器件用测试座,涉及霍尔开关测试用零部件技术领域,解决了现有的测试座结构受待测霍尔开关元器件的管脚影响,不同管脚的待测霍尔开关元器件就需要使用不同的测试座,通用性较低,成本较高的问题。技术方案包括基台,所述基台上设有上下贯通的基管,所述基管内设有替芯,所述替芯内上下贯穿有多个针孔,针孔内设有相互匹配的探针和针套,探针位于针套上方,针套底端连接到测试机,基管顶部连接有第一平台,所述替芯顶部设有第二平台,所述第一平台上连接有用于将其与第二平台相固定的固定件。达到了提高测试座通用性,并方便更换探针和针套或其他小零部件,且无需再次绕线,降低测试成本的效果。
基本信息
专利标题 :
一种小型封装霍尔开关元器件用测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920989181.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-27
授权号 :
CN210270087U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
何彬德赵洪亮
申请人 :
张家港恩达通讯科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园E栋,恩达通讯
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
赵煜
优先权 :
CN201920989181.3
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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