ICT光感测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了ICT光感测试治具,包括底座,所述底座的上方设置有下护板,所述底座的四个拐角处位于下护板的两侧设置有第二连接杆,所述第二连接杆的上方固定安装有上针板,所述上针板的上方设置有第一连接杆,且第一连接杆的上方固定安装有天板,所述天板的中间设置有下压块,所述下压块的下端贯穿上针板与上护板相固定,所述底座的上表面位于上护板的下方相对应处设置有下护板。本实用新型所述的ICT光感测试治具,通过卡紧装置对上护板和下护板进行相互固定卡合,并且通过导向装置提高探针的检测位置的准确性,方便对不同电路板就进行检测,并且可以避免检测探针发生损坏,更换时电路板检测时只需改变检测探针的数量和位置即可。
基本信息
专利标题 :
ICT光感测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921093955.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-13
授权号 :
CN211123137U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
詹友飞吴娇齐
申请人 :
深圳市朝一电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区燕罗街道塘下涌社区致和路16号沙浦龙工业区乐邹厂办公综合楼401
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921093955.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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