一种用于短波红外探测器芯片的新型快速测试座

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摘要

本实用新型涉及芯片测试座，具体是一种用于短波红外探测器芯片的新型快速测试座。本实用新型解决了现有芯片测试座在经过长期使用后容易造成接触不良的问题。一种用于短波红外探测器芯片的新型快速测试座，包括电路板、左箱形绝缘基座、右箱形绝缘基座、左弹性导电测试针、右弹性导电测试针、左弹性绝缘压板、右弹性绝缘压板；其中，电路板呈水平设置；电路板的左部开设有N个上下贯通且沿纵向等距排列的左焊盘孔；电路板的右部贯通开设有N个上下贯通且沿纵向等距排列的右焊盘孔；左箱形绝缘基座的下外壁与电路板的上表面左部固定；右箱形绝缘基座的下外壁与电路板的上表面右部固定。本实用新型适用于短波红外探测器芯片的测试。

基本信息

专利标题：

一种用于短波红外探测器芯片的新型快速测试座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921187721.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-26

授权号：

CN210294473U

授权日：

2020-04-10

发明人：

黄东海

申请人：

山西国惠光电科技有限公司

申请人地址：

山西省太原市高新区亚日街1号

代理机构：

太原新航路知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

王勇

优先权：

CN201921187721.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/073