一种用于中子衍射测量的多维应力加载实验装置
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摘要

本实用新型公开了一种用于中子衍射测量的多维应力加载实验装置。该装置可用于对样品进行中子衍射测量,同时为样品提供拉、压、扭、拉扭、压扭以及以上力学加载与温度场的复合加载。该装置采用了三柱式结构,结构稳定可靠,为样品装卸、温度加载腔体的安装等操作预留了较大空间。该装置还采用了非接触式的视频变形测量对样品变形进行直接测量,解决了在中子衍射应用中接触式引伸计安装复杂或对扭转测量不适用的问题。用于中子衍射测量的多维应力加载实验装置具有多功能、操作简单、测量精度高的特点,配合中子应力谱仪使用,可实现样品在使役条件下的中子应力分布测量,为揭示材料的力学特性和损伤、断裂机制研究提供了有效、可靠的测试手段。

基本信息
专利标题 :
一种用于中子衍射测量的多维应力加载实验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921194685.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-27
授权号 :
CN210294117U
授权日 :
2020-04-10
发明人 :
庞蓓蓓孙光爱孙雪飞王虹李建杨钊龙潘建张昌盛
申请人 :
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱218分箱
代理机构 :
中国工程物理研究院专利中心
代理人 :
翟长明
优先权 :
CN201921194685.2
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  G01N23/20025  G01N3/08  G01N3/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2020-04-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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