一种用于表面检测的光源装置
授权
摘要
本实用新型属于机器视觉设备技术领域，具体涉及一种用于表面检测的光源装置，包括发光组件、聚光组件及导光组件，聚光组件安装于发光组件的上方，导光组件罩设于聚光组件，导光组件用于同时检测工件表面的横向划痕和纵向划痕。本实用新型不仅能够同时检测工件上的同一平面内的相互垂直的横向划痕和纵向划痕，避免了在工件的缺陷检测中出现检测不全面或需要分多次检测的情况，提高了检测效率和检测质量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于表面检测的光源装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921311493.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-14
授权号 ：
CN210571921U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
钟超
申请人 ：
广东奥普特科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市长安镇锦厦社区河南工业区锦升路8号
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
潘俊达
优先权 ：
CN201921311493.5
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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