本实用新型公开了一种用于芯片检测的光源装置以及检测装置，光源装置包括光源机构以及光环境调节机构；光环境调节机构包括驱动件以及光源透过板；光源透过板上形成有第一透光孔以及孔径小于第一透光孔孔径的第二透光孔；驱动件被配置为驱动光源透过板运动，以使光源机构所产生光线可选择性地与第一透光孔或第二透光孔对应；第一透光孔被配置为使光源机构所产生光线能够以均匀光线的方式照射在芯片上；第二透光孔被配置为使光源机构所产生光线中的部分光线以预设角度照射在芯片上。本实用新型可快速切换不同光线条件以对芯片的多项不同缺陷进行快速检测。