一种共孔径多光谱光电探测系统的光轴平行性校准系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种共孔径多光谱光电探测系统的光轴平行性校准系统，包括二维转台、控制计算机、光机组件、共孔径组件、第一分光镜、红外反射镜、第二分光镜、激光反射镜、红外热像仪、可见光电视、激光测照器、图像处理板和控制板；二维转台承载固定光机组件；所述控制计算机连接控制板和图像处理板；光机组件用于提供其它组件和元件的安装座；共孔径组件用于提供可见光、红外辐射的共孔径接收；第一分光镜对红外辐射高反；红外反射镜对红外辐射高反；第二分光镜对可见光高透，对激光部分透射；激光反射镜对激光高反；可见光电视包括可切换插入的激光窄带滤光片，可见光电视的探测器具有与激光发射同步曝光成像功能。
基本信息
专利标题 ：
一种共孔径多光谱光电探测系统的光轴平行性校准系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921381521.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-23
授权号 ：
CN210322255U
授权日 ：
2020-04-14
发明人 ：
甘欣辉宋亮姚连喜万韬郭贺蒋晓峰刘鹏杨苏文黄俊峰崔启胤吴国轩朱婉莹刘明智
申请人 ：
江苏和正特种装备有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市句容市空港新区16号
代理机构 ：
江苏圣典律师事务所
代理人 ：
吴庭祥
优先权 ：
CN201921381521.0
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-04-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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