一种基于弹片探针的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种基于弹片探针的测试装置，包括胶芯、胶芯导套、测试座、盖板；所述测试座一侧经若干台阶导套与胶芯导套活动连接，且测试座与胶芯导套贯通有用于安装胶芯的第一安装孔；所述胶芯设有若干第二安装孔，每一第二安装孔内置有一弹片探针，且每一弹片探针的一端用于与待测产品电性连接；所述胶芯一侧还设有与每一弹片探针另一端接触的排线，排线用于与外部测试设备连接；所述盖板布置于胶芯导套一侧，用于将排线限位固定。本实用新型设计合理、结构紧凑，通过弹片探针实现连接器的测试，易加工、接触点面积大、测试精度高，同时，装置采用模块化设计，只需稍加改造，便可适用于各种不同类型的连接器测试，泛用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种基于弹片探针的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921385757.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-22
授权号 ：
CN210514587U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
尹高斌
申请人 ：
深圳市强瑞精密技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区五和大道308号C栋厂房1层至5层
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
彭西洋
优先权 ：
CN201921385757.1
主分类号 ：
G01R31/54
IPC分类号 ：
G01R31/54 G01R31/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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