一种透射电子显微镜样品杆
授权
摘要

本实用新型实施例公开了一种透射电子显微镜样品杆,包括一端设置有电学接口的杆身,杆身的另一端设置有端头,端头上表面设置有测试芯片槽,测试芯片槽一侧的端头上安装有压片,压片表面中间沿长度方向上设置有压片槽口,压片通过设置在压片槽口中的定位螺栓安装在端头上;端头的下表面设置有接线板和导电针,导电针通过螺栓安装在接线板上,接线板通过导线与电学接口电性连接,压片设计到端头背面,从芯片背面压住芯片,芯片背面没有电极,避免了因端头设计不合理而造成限制芯片上的电极排布空间大情况,并且无论芯片有多厚,芯片上安置样品的位置都是固定的,因此可以根据需要设计并安置不同厚度的芯片。

基本信息
专利标题 :
一种透射电子显微镜样品杆
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921398732.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-27
授权号 :
CN210465309U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
赵晓灿许智
申请人 :
安徽泽攸科技有限公司
申请人地址 :
安徽省铜陵市经济技术开发区高新技术创业服务中心D号楼101号
代理机构 :
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
胡剑辉
优先权 :
CN201921398732.5
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/20  H01J37/20  H01J37/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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