一种使用透射电子显微镜确认晶体手性的方法
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摘要

本发明公开了一种使用透射电子显微镜确认晶体手性的方法,其特征在于,首先根据不同手性晶体的对称性确定合适的晶带轴,然后使用球差校正的透射电子显微镜将晶体转至特定的晶带轴,并拍摄沿不同晶带轴方向的系列扫描透射电子显微高分辨图像,结合左右手性结构的图像模拟结果,根据特定晶带轴方向高分辨图像中观测到的、与左右手性结构相关的、不同的原子排列。本发明突破了传统的使用多个晶胞平均信息的衍射方法的局限性,利用球差校正扫描透射电子显微镜高分辨成像,在亚原子分辨率下确认晶体局部区域的左右手性,简便易操作,具有普适性。

基本信息
专利标题 :
一种使用透射电子显微镜确认晶体手性的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110954566A
申请号 :
CN201911309683.8
公开(公告)日 :
2020-04-03
申请日 :
2019-12-18
授权号 :
CN110954566B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
马延航董卓雅
申请人 :
上海科技大学
申请人地址 :
上海市浦东新区华夏中路393号
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
徐俊
优先权 :
CN201911309683.8
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-27 :
授权
2020-05-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20
申请日 : 20191218
2020-04-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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