一种将二维材料转移至透射电子显微镜格栅的方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于二维材料领域,公开了一种将二维材料转移至透射电子显微镜格栅的方法。将聚二甲基硅氧烷薄膜表面的针头凸起与有机膜贴合制成复合转移膜,将针头凸起表面的有机膜与二维材料贴合,升温至120℃~130℃,增加有机膜的粘性,二维材料转移至有机膜上;将二维材料与格栅贴合,升温至170℃~180℃,有机膜融化并固定在格栅上;去除有机膜后,即完成转移。本发明设置的针头凸起与有机膜的结合,可有效减少有机膜与格栅的接触面积,利于精确控制、选取所需转移的二维材料;同时利用有机膜在不同温度下的粘性不同来转移二维材料,可减少粘附力对格栅的应力,又不破坏二维材料的完整性。

基本信息
专利标题 :
一种将二维材料转移至透射电子显微镜格栅的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486960A
申请号 :
CN202210009088.8
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林君浩杨其朔
申请人 :
南方科技大学
申请人地址 :
广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
刘燚
优先权 :
CN202210009088.8
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  G01N1/28  G01N1/36  G01N23/20  G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20025
申请日 : 20220105
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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