基于太赫兹时域谱技术的涡旋拓扑荷态的测量系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于太赫兹时域谱技术的涡旋拓扑荷态测量系统，包括：飞秒激光器、第一分束镜、产生模块、调制模块、探测模块和控制模块，所述调制模块包括空间光调制器，用于周期性调制涡旋太赫兹脉冲，所述控制模块包括锁相放大器，所述锁相放大器的参考输入端输入所述空间光调制器的调制频率信号，用于锁相放大不同涡旋拓扑荷成分的信号，通过探测模块的扫描延时线完成对各涡旋拓扑荷成分的时域波形扫描。本实用新型提供的涡旋波测量系统用于太赫兹时域谱技术，相比于传统的小孔限制和CCD观测，具有速度快、精度高、操作简便的效果。

基本信息

专利标题：

基于太赫兹时域谱技术的涡旋拓扑荷态的测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921479359.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-06

授权号：

CN210774362U

授权日：

2020-06-16

发明人：

吕治辉张栋文王小伟赵增秀袁建民

申请人：

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址：

湖南省长沙市开福区福元路1号国防科大

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司

代理人：

洪铭福

优先权：

CN201921479359.6

主分类号：

G01J3/433

IPC分类号：

G01J3/433 G01J3/02 G01J9/00