低矮植被冠层多角度光谱及结构参数测量辅助装置
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摘要
一种低矮植被冠层多角度光谱及结构参数测量辅助装置，包括框体、安装在框体的容器、与框体连接的支撑架；容器种植测量目标植被且安装有筒体以容置植被冠层结构分析仪镜头而测量目标植被冠层信息；支撑架的横梁端部配装输出端朝下的第一减速器，第一减速器的输出端连接第二减速器，第二减速器的输出端与第一减速器的输出端垂直，第二减速器的输出端配装机械臂，机械臂滑动连接滑块，滑块安装地物光谱仪测量探头，第一减速器和第二减速器间接驱动地物光谱仪测量探头水平转动及竖直摆动，第一减速器和第二减速器均装刻度盘。测量辅助装置将地物光谱仪和植被冠层结构分析仪相结合，实现了多角度测量，解决了分析仪镜头放置问题。
基本信息
专利标题 ：
低矮植被冠层多角度光谱及结构参数测量辅助装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921528235.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-16
授权号 ：
CN210604359U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
李微宋鑫肖忠岩周瑞琴高天一臧国荣吴韬赵健顺
申请人 ：
大连海洋大学
申请人地址 ：
辽宁省大连市沙河口区黑石礁街52号
代理机构 ：
北京卓特专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
段宇
优先权 ：
CN201921528235.2
主分类号 ：
G01N21/25
IPC分类号 ：
G01N21/25 G01C11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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