元器件引脚共面度的检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种元器件引脚共面度的检测装置,用于对元器件的引脚的共面度进行检测,包括:工作台、扫描装置、驱动装置和控制装置,其中扫描装置用于对元器件表面的引脚的高度进行测量,驱动装置将元器件移入至所述扫描装置中进行检测,元器件检测合格后被所述驱动装置从所述扫描装置中移出,控制装置控制所述驱动装置驱动元器件移动同时控制所述扫描装置对元器件进行测量以判断元器件是否合格。本实用新型中的元器件引脚共面度的检测装置能对元器件进行精准检测,并有效降低元器件的报废率,提高元器件的贴装的稳定性。

基本信息
专利标题 :
元器件引脚共面度的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921582062.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-20
授权号 :
CN210513030U
授权日 :
2020-05-12
发明人 :
陈强
申请人 :
深圳市华显光学仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区华清大道200号花半里13栋C15层1505
代理机构 :
深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
钟斌
优先权 :
CN201921582062.2
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  H05K13/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-05-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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