一种芯片引脚共面性检测装置
授权
摘要
本实用新型提供的一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架、工作台、检测机构、料盘、料盘定位机构和芯片搬运机构，料盘用于放置芯片，料盘设于工作台上；料盘定位机构设于料盘的周边，用于定位料盘的侧面；芯片搬运机构设于料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，取放组件与XYZ移动组件连接，XYZ移动组件用于带动取放组件将芯片放置于料盘内。本实用新型通过设置料盘定位机构能够实现料盘在工作台上的定位，能够避免由于料盘偏斜引起的检测偏差；通过设置芯片搬运机构，能够实现芯片自动化搬运至料盘上，自动化程度高，避免搬运中损坏芯片。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片引脚共面性检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922475394.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211401078U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
翁晓云刘今越翁黎明
申请人 ：
天门进保（天津）科技股份有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区华苑产业区海泰发展六道6号海泰绿色产业基地F座2门201室-1
代理机构 ：
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邓琳
优先权 ：
CN201922475394.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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