一种可自动调节探针间距的测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种可自动调节探针间距的测试装置，包括测试骨架、滑动探针模组和连杆机构，所述滑动探针模组包括若干个沿测试骨架轴向方向排列的活动板，所述活动板的轴向方向与测试骨架的轴向方向垂直，若干个所述活动板通过连杆机构沿测试骨架的轴向方向同步伸缩滑动，所述活动板上、沿活动板轴向方向的两端设置有活动探针。本实用新型提供一种遇到换产时探针可等间距快速自动调节的测试装置，大大节约了换产时间和提高了生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种可自动调节探针间距的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921775398.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-22
授权号 ：
CN210894412U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
孙文苏攀赵阳樊岩东
申请人 ：
湖北德普智能装备有限公司
申请人地址 ：
湖北省襄阳市高新区劲风路与叶店路交汇处(湖北德普电气股份有限公司厂区内）
代理机构 ：
武汉经世知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张淼超
优先权 ：
CN201921775398.0
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01R1/073 G01R31/385
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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