带温度调节模块的LED测试探针结构
授权
摘要

一种带温度调节模块的LED测试探针结构,包括温度调节模块和探针模块,所述温度调节模块设于所述探针模块上方,对被测产品进行温度调节。本实用新型在传统测试探针结构上安装有加热或制冷模块,带来的有益效果是,使得LED在测试时可以获得不同的温度,实现了LED更宽的测试场景。

基本信息
专利标题 :
带温度调节模块的LED测试探针结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921998499.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-16
授权号 :
CN211402473U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
熊亚俊幸雄段雄斌何选民
申请人 :
深圳市标谱半导体科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道茶西三围第二工业区B区9、10楼
代理机构 :
深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
胡清方
优先权 :
CN201921998499.4
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R31/44  G01M11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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