一种温度测试探针

授权

摘要

本实用新型公开了一种温度测试探针，包括用于温度测试的探针主体，还包括有绝缘的安装座，探针主体安装固定在安装座上，安装座上设置有多个定位部，定位部，定位部上设置有设置有插槽；定位部靠近探针主体的一侧设置有夹持块，夹持块和探针主体紧贴，夹持块上均设置有隔热软片，隔热软片围住探针主体设置，相邻两片隔热软片相互抵触，隔热软片面向探针主体的一侧设置有多个凸起部，凸起部上设置有吸水件。本实用新型在进行温度测试时，能够有效隔绝外界因素的不利影响，提升了测试的准确性；探针主体不易损坏，使用寿命更长。

基本信息

专利标题：

一种温度测试探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022051362.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-17

授权号：

CN212779604U

授权日：

2021-03-23

发明人：

杨文

申请人：

深圳中测通科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道宝安大道洪盛工业园5栋3楼

代理机构：

深圳市世通专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘付靖

优先权：

CN202022051362.7

主分类号：

G01K1/12

IPC分类号：

G01K1/12