一种三极管测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种三极管测试设备。它包括测试基座、测试组件、移动座以及设置在移动座上的待测三极管，移动座上开设有与待测三极管的形状匹配的安装凹槽，待测三极管的尾部固定在安装凹槽内，测试基座上连接有第一导轨、第二导轨和检测座，测试基座上还设置有将移动座从第一导轨推送至检测座的第一推动机构和将移动座从检测座上推送至第二导轨的第二推动机构，测试基座上还设置有朝向第一推动机构的限位板。本实用新型的有益之处在于：通过第一导轨、第二导轨、第一推动机构和第二推动机构的设置，能够实现待测三极管的快速上料和下料，提高了测试效率，克服了现有技术中上下料不便，检测效率低的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
一种三极管测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921848393.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211669318U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
倪元年
申请人 ：
苏州华元森电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区若水路388号D211室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921848393.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
