一种三极管测试座
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摘要

本实用新型公开了一种三极管测试座,包括测试插座和卡紧机构,所述测试插座顶部设置有三个供三极管电极插入的插孔,所述三极管可拆卸式安装在测试插座顶部,所述卡紧机构安装在测试插座前后表面且可对三极管压紧限位,所述卡紧机构包括固定凸块、转动板、活动卡板和连接组件,所述固定凸块垂直固定在测试插座表面,开口端向上的“U”型转动板下端通过转轴与固定凸块转动连接,左视为“L”型的活动卡板竖直端伸进转动板内;本实用新型通过设置有卡紧机构,可对插在测试插孔中的三极管进行压紧限位,降低二者松动或者倾斜而影响三极管测试的几率,且转动板可转动,不影响测试完的三极管的取下,且整个组件可根据三极管整体长度调节限位距离。

基本信息
专利标题 :
一种三极管测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022379011.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-23
授权号 :
CN213457221U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
郭力
申请人 :
无锡力神微电子有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区兴阳路9号12-502
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
王勇
优先权 :
CN202022379011.9
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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