一种三极管阵列器件测试单元及装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种三极管阵列器件测试单元及装置，用于对三极管阵列器件进行测试，三极管阵列器件包括四个三极管，测试单元包括：第一电源、第二电源、保险管、检测电阻、功率电阻、负载电阻、第一滤波电容、第二滤波电容；功率电阻的第一端与检测电阻、保险管、第一电源、第二电源、负载电阻的第一端相串联，功率电阻的第二端与所述四个三极管的集电极相连接，负载电阻的第二端与四个三极管的发射极相连接，第一电源的负极端与四个三极管的基极相连接，第一滤波电容与第一电源并联，滤波电容与第二电源并联。本实用新型能够对三极管阵列器件进行可靠性测试。
基本信息
专利标题 ：
一种三极管阵列器件测试单元及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921234082.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210894598U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
左洪涛贾民杰宁凯张凡
申请人 ：
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路50号
代理机构 ：
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 ：
李弘
优先权 ：
CN201921234082.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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