一种高精度光学测量仪的自动对位机架
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度光学测量仪的自动对位机架，涉及光学测量仪技术领域。该高精度光学测量仪的自动对位机架，包括支撑平台，所述支撑平台顶部外表面固定安装有工作台和第二安装板，所述工作台的一侧外表面固定安装有第一安装板，所述工作台的顶部外表面固定安装有测量台和光学测量仪本体，所述光学测量仪本体上设置有探头，所述第一安装板远离光学测量仪本体的一侧外表面固定安装有驱动电机，所述驱动电机的两侧均固定安装有安装块，所述安装块与第一安装板的一侧外表面固定连接。该高精度光学测量仪的自动对位机架，使得操作人员无需一边通过电脑观察，无需要手动移动载玻片的位置，节省时间，提高工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度光学测量仪的自动对位机架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921889806.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN210664339U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
徐栋
申请人 ：
无锡市东特机械科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市锡山区羊尖镇工业园胶阳东路177号
代理机构 ：
常州市天龙专利事务所有限公司
代理人 ：
翟丹丹
优先权 ：
CN201921889806.5
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/24 G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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