一种电子芯片辐照试验专用箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在支撑架的上方固定物料板；在物料板的两侧设置角铁架；在角铁架与下方的支撑架之间固定一斜撑；在角铁架的上方设置铅板；本实用新型的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴‑60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴‑60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。
基本信息
专利标题 ：
一种电子芯片辐照试验专用箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921970888.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-13
授权号 ：
CN211206673U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
秦贤军顾家明蔡锡明
申请人 ：
上海世龙科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区嘉罗公路2019号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921970888.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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