太赫兹偏振信息及时域波形的单次测量装置
授权
摘要

本实用新型公开一种太赫兹偏振信息及时域波形的单次测量装置,包括:脉冲展宽单元对光源发出的探测超短脉冲进行展宽,生成啁啾探测脉冲,啁啾探测脉冲射入偏振调节单元;偏振调节单元调节啁啾脉冲的偏振方向,获得圆偏振啁啾探测脉冲。合束单元将所要探测的太赫兹脉冲及圆偏振啁啾探测脉冲合束,太赫兹调制单元调制圆偏振啁啾探测脉冲,使太赫兹脉冲波形加载到圆偏振啁啾探测脉冲,获得椭偏啁啾探测脉冲。相位延迟单元将椭偏啁啾探测脉冲相位延迟,接收单元获得入射的椭偏啁啾探测脉冲在某一线偏振方向的干涉光谱,通过对干涉光谱进行傅里叶变换和滤波处理,在单次测量中得到太赫兹脉冲的偏振及时域波形信息,结构简单,不受激光抖动的影响。

基本信息
专利标题 :
太赫兹偏振信息及时域波形的单次测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922018564.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-20
授权号 :
CN211740399U
授权日 :
2020-10-23
发明人 :
林庆钢徐世祥宋其迎王弘耿王宏宇陆小微蔡懿
申请人 :
深圳大学
申请人地址 :
广东省深圳市南山区南海大道3688号
代理机构 :
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
鲍竹
优先权 :
CN201922018564.9
主分类号 :
G01J4/04
IPC分类号 :
G01J4/04  G01J4/00  G01J3/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
G01J4/04
用电检测方法的偏振计
法律状态
2020-10-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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