一种物体缺陷观测装置
授权
摘要
本实用新型公开的一种物体缺陷观测装置，包括机架和安装在机架上的智能相机、调焦组件、镜头模组、移动平台、光源控制器和电源组件，其还包括安装在机架上的远心系机器视觉同轴光源和反射镜组件，远心系机器视觉同轴光源的平行光路射出窗口位于移动平台的上方，反射镜组件位于移动平台的下方；远心系机器视觉同轴光源中的光源由电源组件供电并通过光源控制器控制；所述移动平台用以放置透明及光泽物体。本实用新型与现有技术相比，具有如下优点：(1)本质平行光路；(2)照射角度可控；(3)采用面型发光，出光功率高；(4)使用条件冗余度高。(5)相对于显微镜，其观察效果佳。
基本信息
专利标题 ：
一种物体缺陷观测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922237101.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-13
授权号 ：
CN211955242U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
邵幼平童雷
申请人 ：
上海创波光电科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区剑川路951号5幢2楼东区
代理机构 ：
上海天翔知识产权代理有限公司
代理人 ：
吕伴
优先权 ：
CN201922237101.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/95 G01N21/958
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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