一种预制棒缺陷观测检查装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种预制棒缺陷观测检查装置，属于光纤制备技术领域。所述预制棒缺陷观测检查装置包括：观察平台、刻度尺、升降机构、两个支撑台及若干标记块；所述刻度尺固定设置在所述观察平台上，若干所述标记块可滑动式地设置在所述观察平台上，所述刻度尺与所述标记块设置在所述观察平台的同一侧；两个所述支撑台分别设置在所述观察平台的两端，两个所述支撑台上开均设有第一通孔；所述升降机构上固定设置有光源。本实用新型预制棒缺陷观测检查装置便于操作，节约人力。
基本信息
专利标题 ：
一种预制棒缺陷观测检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921389418.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210665533U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
李云丽刘锐陈靖王道龙其他发明人请求不公开姓名
申请人 ：
武汉睿芯特种光纤有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技城C区2号楼803
代理机构 ：
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘杰
优先权 ：
CN201921389418.0
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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