缺陷检查装置、方法以及信息记录介质
实质审查的生效
摘要

本发明的实施方式涉及缺陷检查装置、方法以及记录介质。提供能够辅助高精度的缺陷检查的缺陷检查装置、方法以及记录介质。实施方式的缺陷检查装置包括存储部、第一取得部、搜索部以及生成部。存储部存储辞典数据,该辞典数据将第一设计图像和第一拍摄图像建立关联而成,所述第一拍摄图像是对基于第一设计数据制造出的没有缺陷的第一检查对象进行拍摄而得到的图像。第一取得部取得基于第二设计数据的第二设计图像。搜索部搜索与第二设计图像类似的第一设计图像。生成部生成参考图像,该参考图像是基于第二设计数据的没有缺陷的情况下的第二检查对象的模拟拍摄图像。第一设计图像包含比第一拍摄图像宽的图像区域的信息。

基本信息
专利标题 :
缺陷检查装置、方法以及信息记录介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114266781A
申请号 :
CN202110219892.4
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-02-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
坂田幸辰杉浦京佳平井隆介谷泽昭行
申请人 :
株式会社东芝
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
刘英华
优先权 :
CN202110219892.4
主分类号 :
G06T7/11
IPC分类号 :
G06T7/11  G06T7/00  G06T5/00  G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
G06T5/50
通过使用多于一幅图像的,例如平均、减少
G06T7/11
区域分割
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/11
申请日 : 20210226
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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