一种铜套环缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型提供一种铜套环缺陷检测装置，包括支撑托板，防潮支撑脚座，防护箱壳，可调节的铜套环约束座结构，方便更换铜套环清洁棒结构，置物挂钩，手提握柄，CCD检测相机，光源照明灯，防护门，触控显示屏，处理主机，操作键盘和机械锁,所述的防潮支撑脚座分别螺栓连接在支撑托板的下表面四角位置。本实用新型在测试前将铜套环套在橡胶锥棒和清洁布套的外表面对铜套环内表面进行清理，同时手持擦拭抹布对铜套环的外表面进行擦拭，避免灰尘过多影响检测的准确性；根据铜套环直径的不同，向外侧拉伸L型卡座将铜套环卡接在L型卡座和L型卡座之间，在夹紧弹簧的作用下将铜套环夹紧，起到约束固定的作用。
基本信息
专利标题 ：
一种铜套环缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922293300.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211652573U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
付卓飞
申请人 ：
武汉和溯源科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市黄陂区临空经济产业示范园川龙8号A4栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922293300.4
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
