一种岩石光谱二向性测量装置
授权
摘要
本实用新型属于遥感技术领域，具体涉及一种岩石光谱二向性测量装置，包括光源、固定平台、半圆龙骨A、旋转平台、半圆龙骨B、标尺A、标尺B、探头和岩石放置框；所述半圆龙骨A的两端垂直固定在固定平台的上表面，所述半圆龙骨B的两端垂直固定在旋转平台的上表面上，岩石放置框固定在旋转平台的圆心处，所述半圆龙骨B上设置有标尺A，标尺A上安装有光源；所述半圆龙骨A上设置有标尺B，标尺B上安装有探头；所述旋转平台同心内套在固定平台内。
基本信息
专利标题 ：
一种岩石光谱二向性测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922310733.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-20
授权号 ：
CN211978678U
授权日 ：
2020-11-20
发明人 ：
陈雪娇潘蔚田青林余长发唐义
申请人 ：
核工业北京地质研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区小关东里十号院
代理机构 ：
核工业专利中心
代理人 ：
王婷
优先权 ：
CN201922310733.6
主分类号 ：
G01N21/25
IPC分类号 ：
G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2020-11-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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