一种透照厚度比测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种透照厚度比测量系统，包括工作台(7)及散辐射防护罩(6)，设于散辐射防护罩(6)内，且位于所述工件(3)顶部的射线装置(1)，该射线装置(1)发射光线与所述述工件(3)相交最大直径处设有至少两个测量参照仪(2)；工件(3)底部设有数字成像单元(4)，测量参照仪(2)通过该数字成像单元(4)获得成像底片；以及设于所述散辐射防护罩(6)一侧的计算机处理中心(5)，所述数字成像单元(4)将所述成像底片传输至该计算机处理中心(5)，所述计算机处理中心(5)读取成像底片计算并显示其透照厚度比。本实用新型的测量系统，实现了透照厚度比的自动化测量，测量精度高，应用范围广。
基本信息
专利标题 ：
一种透照厚度比测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922487098.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211317219U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
陈汉国徐文胜胡团伟吴克宝周秀伦张忠杰史晓贞刘志程燕飞王翔
申请人 ：
武汉华中科大土木工程检测中心
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 ：
北京恒和顿知识产权代理有限公司
代理人 ：
王福新
优先权 ：
CN201922487098.9
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06 G01N21/01 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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