氧化膜厚测量装置以及该方法
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摘要

本发明的氧化膜厚测量装置针对将膜厚测量范围划分的多个子膜厚测量范围分别存储有膜厚与发光亮度的对应关系的膜厚转换信息,在该子膜厚测量范围内,相对于膜厚变化的发光亮度变化之比处于设定范围内,多个发光亮度测量部各自以不同的多个测量波长测量钢板表面的发光亮度,针对多个发光亮度测量部各自测量的钢板表面的各发光亮度,通过使用与该发光亮度测量部相对应的膜厚转换信息,求出与该测量的发光亮度相对应的膜厚和该膜厚下的比,并且在该求出的比处于与该膜厚转换信息相对应的设定范围内的情况下,将该求出的膜厚作为实际的膜厚的候选值而提取。

基本信息
专利标题 :
氧化膜厚测量装置以及该方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112805531A
申请号 :
CN201980066338.8
公开(公告)日 :
2021-05-14
申请日 :
2019-10-07
授权号 :
CN112805531B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
乾昌广高松弘行中西良太
申请人 :
株式会社神户制钢所
申请人地址 :
日本兵库县
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
吴克鹏
优先权 :
CN201980066338.8
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  C23C2/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-06-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20191007
2021-05-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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