适用于双频激光干涉测量的光隔离装置及方法
授权
摘要
本发明提供了一种适用于双频激光干涉测量的光隔离装置及方法，包括：第一偏振分光镜、第一单向通过光路、第二偏振分光镜和第二单向通过光路；光束经过第一偏振分光镜分束为S光和P光；S光经过第一单向通过光路后进入第二偏振分光镜；P光经过第二单向通过光路后进入第二偏振分光镜；第二偏振分光镜对进入的光进行合束输出。本发明通过通过构建了单向传输路径，保证了双频激光光束的偏振特性不变，同时具备光隔离效果好、激光能量损失少、机理明确、工程实践效果好、应用范围广泛等优点。
基本信息
专利标题 ：
适用于双频激光干涉测量的光隔离装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111664786A
申请号 ：
CN202010402835.5
公开（公告）日 ：
2020-09-15
申请日 ：
2020-05-13
授权号 ：
CN111664786B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
沈涛李艳红朱炜陈强华刘斌超赵吕懿张琰柴娟芳杨扬周麟
申请人 ：
上海机电工程研究所;北京理工大学;北方工业大学
申请人地址 ：
上海市闵行区元江路3888号（八部）
代理机构 ：
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡晶
优先权 ：
CN202010402835.5
主分类号 ：
G01B9/02
IPC分类号 ：
G01B9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 9/02
申请日 : 20200513
申请日 : 20200513
2020-09-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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