运载体的变形测量方法、装置以及存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种运载体的变形测量方法、装置以及存储介质。其中运载体的变形测量方法，包括：在运载体上确定多个参照物，其中每个参照物设置有至少一个测量面(S)；确定与参照物的测量面(S)的姿态相关的第一姿态测量信息；根据第一姿态测量信息确定多个参照物的参照物姿态信息；以及根据多个参照物的参照物姿态信息，确定运载体的变形信息。
基本信息
专利标题 ：
运载体的变形测量方法、装置以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111678451A
申请号 ：
CN202010415046.5
公开（公告）日 ：
2020-09-18
申请日 ：
2020-05-15
授权号 ：
CN111678451B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
杨君习先强
申请人 ：
天津时空经纬测控技术有限公司
申请人地址 ：
天津市西青区中北工业园星光路27号北办公楼101-102
代理机构 ：
北京万思博知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘冀
优先权 ：
CN202010415046.5
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16 G01C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-10-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20200515
申请日 : 20200515
2020-09-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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